近年來，隨著半導體行業(yè)飛速發(fā)展，相關產(chǎn)品關鍵結構尺寸的進一步微納米化，透射電鏡逐漸開始作為半導體失效分析的有力工具。為了讓用戶對透射電鏡相關內(nèi)容有進一步的了解，此次公開課特意邀請英國曼徹斯特大學材料學博士、廣電計量半導體技術副經(jīng)理劉辰開展主題為《透射電鏡原理介紹及其在半導體失效分析中的應用》線上公開課。（TEM介紹及其在半導體失效分析中的應用）
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更新日期：2025-07-23
價格：
| 品牌 | 廣電計量 | 課程形式 | 線上直播 |
|---|---|---|---|
| 課程時間 | 2023-3-30 上午9:30 | 講師 | 英國曼徹斯特大學材料學博士 劉辰 |
| 課程價格 | 免費 |
透射電子顯微鏡（TEM）于1932年左右發(fā)明，是一種以波長極短的電子束作為電子光源，利用電子槍發(fā)出的高速的、聚集的電子束照射至非常薄的樣品，收集透射電子流經(jīng)電磁透鏡多級放大后成像的高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學儀器。
透射電鏡具有分辨率高、可與能譜儀等其他技術聯(lián)用的優(yōu)點，在物理、化學、生物學和材料學等多個領域有著廣泛的應用。近年來，隨著半導體行業(yè)飛速發(fā)展，相關產(chǎn)品關鍵結構尺寸的進一步微納米化，透射電鏡逐漸開始作為半導體失效分析的有力工具。
4nm制程芯片TEM成像圖
為了讓用戶對透射電鏡相關內(nèi)容有進一步的了解，此次公開課特意邀請英國曼徹斯特大學材料學博士、廣電計量半導體技術副經(jīng)理劉辰開展主題為《透射電鏡原理介紹及其在半導體失效分析中的應用》線上公開課。屆時，報名用戶不僅能免費參與課程，聽課期間還有專業(yè)的技術專家團隊為大家進行現(xiàn)場答疑。
【主題】透射電鏡原理介紹及其在半導體失效分析中的應用
【時間】時間3月30日上午9:30-11:00
【講師】劉辰
● 英國曼徹斯特大學材料學博士
● 廣電計量MA技術線負責人
● 近十年材料分析和電鏡實操經(jīng)驗
此次公開課不僅作為一場公益課程，更對于報名并成功聽課的客戶提供優(yōu)惠檢測服務方案。
● 優(yōu)惠期間，可享受優(yōu)先檢測服務
● 優(yōu)惠期間，可享受AEC-Q培訓課程八折優(yōu)惠
【優(yōu)惠期：2023.3.30-2023.4.30】
Q：如何確定已報名成功？
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